Недавние публикации

1. А. Г. Турьянский, Н.Н. Герасименко, Я.М. Станишевский, С.С. Гижа, Д. И. Смирнов. Многоканальный аналитический рентгеновский комплекс на базе яркого микрофокусного источника Наноиндустрия, №7, (2015) 40-51.
2. Н.Н. Герасименко, Д. И. Смирнов, А.Г. Турьянский Новые рентгеновские измерительные системы с микрофокусными источниками для диагностики твердотельных микро- и наноструктур. Наноиндустрия. (2015) вып. 2.  58–69.
3. А. Г. Турьянский, О. В. Коновалов, С. С. Гижа, Н. Д. Бейлин. Краевой дифракционный эффект при рефракции рентгеновского излучения в алмазной призме. Письма в ЖЭТФ, 2014, том 100, выпуск 8, с. 601–604.
4. А.Г. Турьянский, С.С. Гижа, В.М. Сенков. Анизотропия дифракционных характеристик тонких пленок пиролитического графита.  Письма в ЖТФ, 2013, том 39, вып. 12, 71-78.
5. А.Г. Турьянский, М.А. Негодаев, Р.А. Хмельницкий. Рентгеновский спектрометр. Патент РФ № 2419088 C1, МПК G01N23/083, 2010.
6. A.G. Turyansky, D.A. Kartashov, N.N. Gerasimenko,  N.A. Medetov, V.I. Tsekhosh. Russian Microelectronics. – 2011. – V. 40, No. 7. – P. 526–528. Performance of the Genetic Algorithm in X-ray Reflectometry Data Analysis.